Prelec | Electron Beam Ion Sources and Traps and Their Applications | Buch | 978-0-7354-0011-5 | www.sack.de

Buch, Englisch, Band 572, 304 Seiten, Gewicht: 620 g

Reihe: AIP Conference Proceedings

Prelec

Electron Beam Ion Sources and Traps and Their Applications

8th International Symposium EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000
1. Auflage 2001
ISBN: 978-0-7354-0011-5
Verlag: AIP Press

8th International Symposium EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000

Buch, Englisch, Band 572, 304 Seiten, Gewicht: 620 g

Reihe: AIP Conference Proceedings

ISBN: 978-0-7354-0011-5
Verlag: AIP Press

This symposium is a triennial event, held in different places around the world (next symposium will be in Japan, in 2003). The topic of the symposium is the development of electron beam ion sources and traps and their applications, so far in basic science and research, but with prospects for extending them into other areas. Potential readers would have an interest in atomic physics and applications to accelerator physics.

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Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Prelec, Krsto

Fachgebiete

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