Buch, Deutsch, 598 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 914 g
ISBN: 978-3-642-86558-9
Verlag: Springer
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Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
Weitere Infos & Material
A. Untersuchungsmethoden.- § 1. Elektronenoptische Grundlagen des Durchstrahlungsmikroskopes.- § 2. Prinzipieller Aufbau des Durchstrahlungsmikroskopes.- § 3. Andere Abbildungsverfahren.- § 4. Messung wichtiger optischer Konstanten.- § 5. Elektronenbeugung.- § 6. Bildkontrast in amorphen Objekten.- § 7. Phasenkontrast und verwandte Probleme.- § 8. Bildkontrast in kristallinen Objekten.- § 9. Präparatveränderungen unter Elektronenbestrahlung.- § 10. Bildaufzeichnung und Intensitätsmessungen.- § 11. Ermittlung der dritten Dimension von elektronenmikroskopischen Präparaten.- § 12. Abbildung magnetischer und elektrischer Objektfelder.- B. Präparationsmethoden.- § 13. Objektblenden und Trägernetze.- § 14. Grundlagen der Hochvakuum- und Aufdampftechnik.- § 15. Herstellung und Eigenschaften von Trägerfolien.- § 16. Oberflächenabdrücke.- § 17. Herstellung durchstrahlbarer Folien aus Metallen und anderen Kristallen.- § 18. Präparation von Pulvern, Suspensionen, Stäuben und Aerosolen.- § 19. Gewebefixation.- § 20. Kontrastierung und histochemische Methoden.- § 21. Einbettung.- § 22. Ultramikrotomie.- § 23. Präparation organischer Teilchen (Fraktionen, Homogenisate, Bakterien, Phagen und Viren).- § 24. Autoradiographie.- § 25. Monographien über Elektronenmikroskopie.- § 26. Bezugsquellen-Nachweis.- Namenverzeichnis.




