Rodbell / Filter / Frost | Materials Reliability in Microelectronics III | Buch | 978-1-107-40948-4 | www.sack.de

Buch, Englisch, 514 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 736 g

Reihe: MRS Proceedings

Rodbell / Filter / Frost

Materials Reliability in Microelectronics III

Volume 309
Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-107-40948-4
Verlag: Cambridge University Press

Volume 309

Buch, Englisch, 514 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 736 g

Reihe: MRS Proceedings

ISBN: 978-1-107-40948-4
Verlag: Cambridge University Press

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Rodbell / Filter / Frost Materials Reliability in Microelectronics III jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Rodbell, Kenneth P.
Filter, William F.
Frost, Harold J.
Ho, Paul S.
Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.