Rodbell / Filter / Frost | Materials Reliability in Microelectronics III | Buch | 978-1-107-40948-4 | sack.de

Buch, Englisch, 514 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 736 g

Rodbell / Filter / Frost

Materials Reliability in Microelectronics III

Volume 309
Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-107-40948-4
Verlag: Cambridge University Press

Volume 309

Buch, Englisch, 514 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 736 g

ISBN: 978-1-107-40948-4
Verlag: Cambridge University Press

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Autoren/Hrsg.

Rodbell, Kenneth P.
Filter, William F.
Frost, Harold J.
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