Sas | Fault Lines | Buch | 978-0-8047-3649-7 | www.sack.de

Buch, Englisch, 272 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 372 g

Sas

Fault Lines

Cultural Memory and Japanese Surrealism
Erscheinungsjahr 2002
ISBN: 978-0-8047-3649-7
Verlag: Stanford University Press

Cultural Memory and Japanese Surrealism

Buch, Englisch, 272 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 372 g

ISBN: 978-0-8047-3649-7
Verlag: Stanford University Press

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Autoren/Hrsg.

Sas, Miryam
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