Thompson / Lloyd | Materials Reliability in Microelectronics II | Buch | 978-1-107-40968-2 | www.sack.de

Buch, Englisch, 344 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 499 g

Reihe: MRS Proceedings

Thompson / Lloyd

Materials Reliability in Microelectronics II

Volume 265
Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-107-40968-2
Verlag: Cambridge University Press

Volume 265

Buch, Englisch, 344 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 499 g

Reihe: MRS Proceedings

ISBN: 978-1-107-40968-2
Verlag: Cambridge University Press

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

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Autoren/Hrsg.

Thompson, C. V.
Lloyd, J. R.
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