Buch, Englisch, 269 Seiten, Format (B × H): 164 mm x 244 mm, Gewicht: 1260 g
Buch, Englisch, 269 Seiten, Format (B × H): 164 mm x 244 mm, Gewicht: 1260 g
ISBN: 978-1-4020-5645-1
Verlag: Springer Nature Singapore
This book will provide all IC engineers with useful information regarding outside (environmental) influences on their designs and is an excellent reference.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Mathematik | Informatik EDV | Informatik Technische Informatik Computersicherheit Kryptographie, Datenverschlüsselung
- Geowissenschaften Umweltwissenschaften Nuklearer Strahlenschutz, Nuklearenergie
- Naturwissenschaften Chemie Physikalische Chemie Nuklearchemie, Photochemie, Strahlenchemie
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Bauelemente, Schaltkreise
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Mikroprozessoren
- Technische Wissenschaften Energietechnik | Elektrotechnik Atomenergietechnik
Weitere Infos & Material
Radiation Space Environment.- Radiation Effects in Microelectronics.- In-flight Anomalies on Electronic Devices.- Multi-level Fault Effects Evaluation.- Effects of Radiation on Analog and Mixed-Signal Circuits.- Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing.- Design Hardening Methodologies for ASICs.- Fault Tolerance in Programmable Circuits.- Automatic Tools for Design Hardening.- Test Facilities for SEE and Dose Testing.- Error Rate Prediction of Digital Architectures: Test Methodology and Tools.- Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis.