Wang / Wu / Wen | VLSI Test Principles and Architectures | Buch | 978-1-4933-0086-0 | sack.de

Buch, Englisch, 808 Seiten

Wang / Wu / Wen

VLSI Test Principles and Architectures

Design for Testability
Erscheinungsjahr 2006
ISBN: 978-1-4933-0086-0
Verlag: Elsevier Science

Design for Testability

Buch, Englisch, 808 Seiten

ISBN: 978-1-4933-0086-0
Verlag: Elsevier Science

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Autoren/Hrsg.

Wang, Laung-Terng
Wu, Cheng-Wen
Wen, Xiaoqing
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