Kunst im Markt - Kunst im Recht

Tagungsband des Dritten Heidelberger Kunstrechtstags am 09. und 10. Oktober 2009
1. Auflage 2010
ISBN: 978-3-8329-5471-0
Verlag: Nomos

Buch, Deutsch, Band 6, 234 Seiten, broschiert, Gewicht: 358 g

Reihe: Schriften zum Kunst- und Kulturrecht

Der Tagungsband enthält die Beiträge des Dritten Heidelberger Kunstrechtstags „Kunst im Markt – Kunst im Streit“. Der erste Teil reagiert auf den Befund, dass Objekte der Kunst immer zugleich Objekte der Warenwelt sind. Der Gegensatz von Kunst und Ware ist heute vor allem im Kunsthandel aufgehoben, der in Form der Kunstmessen sowohl museale als auch kommerzielle Zwecke verfolgt. Das wirft die Frage auf, inwieweit das Recht diesen beiden Polen Rechnung trägt.
Dieser Frage wird exemplarisch am Beispiel der Fotografie nachgegangen. Im Mittelpunkt stand dabei das Urheberrecht. Dessen jüngste Entwicklung schwankt zwischen Marktregulierung und kulturellem Imperativ und schreibt damit die janusköpfige Geschichte von Objekten als Kunst und Ware fort. Der zweite Teil der Tagung behandelt aktuelle Brennpunkte von Kunst im Streit: Internationale Herausgabeklagen, die Bewertung von Kunstwerken im Steuer- und Erbrechtsstreit, der gutgläubige Erwerb und die Ersitzung von Kunstwerken, die tatsächliche Feststellung und die rechtliche Bewältigung von Fälschungen. Abschließend kommen Möglichkeiten zur Streitminderung an Kunstakademien und -hochschulen zur Sprache.

Autoren/Hrsg.

Weller, Matthias

Kemle, Nicolai

Dreier, Thomas

Lynen, Peter Michael

Fachgebiete

• Rechtswissenschaften Wirtschaftsrecht Urheberrecht Kunst-, Musik-, Verlags- und Theaterrecht
• Geisteswissenschaften Kunst Kunst, allgemein Kunstsammlung, Museen, Ausstellungen
• Wirtschaftswissenschaften Wirtschaftssektoren & Branchen Medien-, Informations und Kommunikationswirtschaft Informationstechnik, IT-Industrie
• Rechtswissenschaften Recht, Rechtswissenschaft Allgemein Beziehungen des Rechts zu anderen Disziplinen

Über Autor(innen)

Herausgegeben von Dr. Matthias Weller, Mag. rer. Publ., RA Dr. Nicolai Kemle, Prof. Dr. Thomas Dreier, Prof. Dr. Dr. h.c. Peter Michael Lynen.