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Zhang / Sun | Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales | Buch | 978-620-7-39359-6 | www.sack.de

Buch, Französisch, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 149 g

Zhang / Sun

Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales


Erscheinungsjahr 2024
ISBN: 978-620-7-39359-6
Verlag: Editions Notre Savoir

Buch, Französisch, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 149 g

ISBN: 978-620-7-39359-6
Verlag: Editions Notre Savoir

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Autoren/Hrsg.

Zhang, John
Sun, Tao
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