E-Book, Englisch, 172 Seiten, eBook
Abu Rahma / Anis Nanometer Variation-Tolerant SRAM
1. Auflage 2012
ISBN: 978-1-4614-1749-1
Verlag: Springer US
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
Circuits and Statistical Design for Yield
E-Book, Englisch, 172 Seiten, eBook
ISBN: 978-1-4614-1749-1
Verlag: Springer US
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Weitere Infos & Material
Introduction.- Variability in Nanometer Technologies and Impact on SRAM.- Variarion-Tolerant SRAM Write and Read Assist Techniques.- Reducing SRAM Power using Fine-Grained Wordline Pulse Width Control.- A Methodology for Statistical Estimation of Read Access Yield in SRAMs.- Characterization of SRAM Sense Amplifier Input Offset for Yield Prediction.