Advances in Imaging and Electron Physics | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 590 Seiten

Advances in Imaging and Electron Physics

Aberration-corrected Electron Microscopy
Erscheinungsjahr 2009
ISBN: 978-0-08-088035-8
Verlag: Elsevier Science & Techn.
Format: EPUB
 Kopierschutz: 6 - ePub Watermark

Aberration-corrected Electron Microscopy

E-Book, Englisch, 590 Seiten

ISBN: 978-0-08-088035-8
Verlag: Elsevier Science & Techn.
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