Ahmed | Nanometer Technology Designs | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 281 Seiten

Ahmed Nanometer Technology Designs

High-Quality Delay Tests
1. Auflage 2010
ISBN: 978-0-387-75728-5
Verlag: Springer-Verlag
Format: PDF
 Kopierschutz: Wasserzeichen (»Systemvoraussetzungen)

High-Quality Delay Tests

E-Book, Englisch, 281 Seiten

ISBN: 978-0-387-75728-5
Verlag: Springer-Verlag
Format: PDF
 Kopierschutz: Wasserzeichen (»Systemvoraussetzungen)

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.

Ahmed Nanometer Technology Designs jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Ahmed, Nisar
Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.