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Bernstein / Bensoussan / Bender | Reliability Prediction for Microelectronics | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 403 Seiten

Reihe: Quality and Reliability Engineering Series

Bernstein / Bensoussan / Bender Reliability Prediction for Microelectronics


1. Auflage 2024
ISBN: 978-1-394-21094-7
Verlag: Wiley-Blackwell
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

E-Book, Englisch, 403 Seiten

Reihe: Quality and Reliability Engineering Series

ISBN: 978-1-394-21094-7
Verlag: Wiley-Blackwell
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Autoren/Hrsg.

Bernstein, Joseph B.
Bensoussan, Alain
Bender, Emmanuel
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