Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods XI | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 236 Seiten, eBook

Reihe: NanoScience and Technology

Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods XI


Scanning Probe Microscopy Techniques

E-Book, Englisch, 236 Seiten, eBook

Reihe: NanoScience and Technology

ISBN: 978-3-540-85037-3
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: Wasserzeichen (»Systemvoraussetzungen)

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. Real industrial applications are included.
Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods XI jetzt bestellen!

Zielgruppe

Professional/practitioner

Autoren/Hrsg.

Bhushan, Bharat
Fuchs, Harald

Weitere Infos & Material

Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.

Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.