Breitenstein / Warta / Langenkamp | Lock-in Thermography | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 10, 195 Seiten

Reihe: Springer Series in Advanced Microelectronics

Breitenstein / Warta / Langenkamp Lock-in Thermography

Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-3-662-08396-3
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials

E-Book, Englisch, Band 10, 195 Seiten

Reihe: Springer Series in Advanced Microelectronics

ISBN: 978-3-662-08396-3
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

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Autoren/Hrsg.

Breitenstein, Otwin
Warta, Wilhelm
Langenkamp, Martin
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