E-Book, Englisch, 702 Seiten, E-Book
Brune / Hellborg / Whitlow Surface Characterization
1. Auflage 2008
ISBN: 978-3-527-61244-4
Verlag: Wiley-VCH
Format: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)
A User's Sourcebook
E-Book, Englisch, 702 Seiten, E-Book
ISBN: 978-3-527-61244-4
Verlag: Wiley-VCH
Format: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)
Ein besonderer Aspekt dieses Buches ist, daß die Analysenmethoden in Gruppen zusammengefaßt und auf die zu untersuchenden Materialeigenschaften abgestimmt sind. Jeder Gruppe geht ein Überblick, der die analytischen Möglichkeiten der einzelnen Verfahren hervorhebt, voraus. Ein Kapitel ist den Kontrolldaten, Vergleichen, sowie Verzügen und Nachteilen der beschriebenen Techniken gewidmet. Dadurch wird der Recherchierende mit dem nötigen Basiswissen ausgestattet, um für seine Zwecke die richtige Methode auswählen zu können.
Alle mit der Oberfläche eines Materials zusammenhängenden Attribute, wie chemische Zusammensetzung, optische und kristallographische Merkmale, elektrische und magnetische Eigenschaften, Tribologie, Mikrotopographie und Oberflächenreaktionen sind hier dargestellt. In speziellen Kapiteln werden Mikroskopie, Chemometrik und life science Anwendungen erörtert.
Dieses Werk wendet sich sowohl an Akademiker als auch an den Anwender in der Industrie. Wissenschaftler und Ingenieure, die an der Entwicklung und Produktion neuer Materialien arbeiten, werden hiermit ein wertvolles Nachschlagewerk finden. Physiker, Chemiker, Chemieingenieure, Materialwissenschaftler und Ingenieure aus allen Gebieten der Materialforschung können von der gewaltigen Menge an praktischen Hinweisen profitieren.
Autoren/Hrsg.
Weitere Infos & Material
PART 1: MICROSTRUCTURE AND TOPOGRAPHY
Optical Microscopy
Scanning Tunneling and Microscopy
Surface Roughness and Microstructure
Preparation Technique
PART 2: ELEMENTAL COMPOSITION
Scanning Electron Microscope
X-Ray Fluorescence Techniques
Charged Particle Activation Analysis
Ion Scattering Spectroscopy
Nuclear Reaction Analysis
Auger electron Spectroscopy
PART 3: CHEMICAL BONDING
Surface Characterization with Synchrotron Light
Laser Microprobe Mass Spectrometry
Fourier Transform Infrared Spectroscopy
Mössbauer Spectroscopy
Chemometrics
PART 4: CRYSTALLOGRAPHY AND STRUCTURE
X-Ray Diffraction and Reflectometry
Transmission Electron Microscopy
Electrons for Surface Diffraction
Channeling
PART 5: SURFACE FILMS:
Optical Characterization of Surfaces by Linear Spectroscopy
Optical Second-Harmonic and Sum-Frequency Generation
Electrical and Magnetic Properties of Thin Films
PART 6: SURFACE PROCESSES/REACTIONS
Surface Reactivity
Emanation Method
Electrochemical Methods
Corrosion Measurements
Nuclear Based Corrosion Monitoring
PART 7: TRIBOSURFACE
Tribosurface Properties
Wear Measurements Using Thin Layer Activation
PART 8: LIFE SCIENCES
Biomaterials
Nuclear Microscopy
PART 1: MICROSTRUCTURE AND TOPOGRAPHY
Optical Microscopy
Scanning Tunneling and Microscopy
Surface Roughness and Microstructure
Preparation Technique
PART 2: ELEMENTAL COMPOSITION
Scanning Electron Microscope
X-Ray Fluorescence Techniques
Charged Particle Activation Analysis
Ion Scattering Spectroscopy
Nuclear Reaction Analysis
Auger electron Spectroscopy
PART 3: CHEMICAL BONDING
Surface Characterization with Synchrotron Light
Laser Microprobe Mass Spectrometry
Fourier Transform Infrared Spectroscopy
Mössbauer Spectroscopy
Chemometrics
PART 4: CRYSTALLOGRAPHY AND STRUCTURE
X-Ray Diffraction and Reflectometry
Transmission Electron Microscopy
Electrons for Surface Diffraction
Channeling
PART 5: SURFACE FILMS:
Optical Characterization of Surfaces by Linear Spectroscopy
Optical Second-Harmonic and Sum-Frequency Generation
Electrical and Magnetic Properties of Thin Films
PART 6: SURFACE PROCESSES/REACTIONS
Surface Reactivity
Emanation Method
Electrochemical Methods
Corrosion Measurements
Nuclear Based Corrosion Monitoring
PART 7: TRIBOSURFACE
Tribosurface Properties
Wear Measurements Using Thin Layer Activation
PART 8: LIFE SCIENCES
Biomaterials
Nuclear Microscopy