Chabal | Fundamental Aspects of Silicon Oxidation | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 46, 262 Seiten

Reihe: Springer Series in Materials Science

Chabal Fundamental Aspects of Silicon Oxidation


Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-3-642-56711-7
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 46, 262 Seiten

Reihe: Springer Series in Materials Science

ISBN: 978-3-642-56711-7
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Autoren/Hrsg.

Chabal, Yves J.
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