Cox | Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 84 Seiten

Reihe: Series in Micro- and Nano-metrology

Cox Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology


Erscheinungsjahr 2015
ISBN: 978-1-68174-148-2
Verlag: Morgan & Claypool Publishers
Format: EPUB
 Kopierschutz: 0 - No protection

E-Book, Englisch, 84 Seiten

Reihe: Series in Micro- and Nano-metrology

ISBN: 978-1-68174-148-2
Verlag: Morgan & Claypool Publishers
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Autoren/Hrsg.

Cox, David C
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