Dahoo / Pougnet / El Hami | Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 | E-Book | www.sack.de
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Dahoo / Pougnet / El Hami Applications and Metrology at Nanometer Scale 1

Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
1. Auflage 2021
ISBN: 978-1-119-80822-0
Verlag: John Wiley & Sons
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

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Autoren/Hrsg.

Dahoo, Pierre-Richard
Pougnet, Philippe
El Hami, Abdelkhalak
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