Dahoo / Pougnet / El Hami | Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light | E-Book | www.sack.de
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Dahoo / Pougnet / El Hami Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light


1. Auflage 2016
ISBN: 978-1-119-32965-7
Verlag: Wiley
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

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Autoren/Hrsg.

Dahoo, Pierre-Richard
Pougnet, Philippe
El Hami, Abdelkhalak
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