Ergebnisse filtern
-
- 15
-
- 2
- 2
- 11
-
- 15
-
- 15
-
- 15
-
- 15
Angewandte Informatik
-
Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-7991-1Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Adams High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-Test2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7255-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Thadikaran / Chakravarty Introduction to IDDQ Testing
1997Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9945-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI
<em>Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2</em> 1998Verlag: SpringerISBN: 978-0-7923-8132-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI
Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2. Softcover version of original hardcover Auflage 1998Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-5033-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Al-Hashimi / Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5315-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Al-Hashimi / Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7235-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Stroud A Designer's Guide to Built-In Self-Test
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7050-1Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Simpson / Sheppard Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8263-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Formal Equivalence Checking and Design Debugging
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8184-6Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
da Silva / Waayers / McLaurin The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(TM)2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8769-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
da Silva / McLaurin / Waayers The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(tm)2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-30751-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 14502003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7637-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Maly / Khare From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and Applications1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9714-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Iyengar / Chandra Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
2002. Auflage 2002Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4020-7119-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort