Buch, Englisch, Band 19, 320 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1450 g
Buch, Englisch, Band 19, 320 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1450 g
Reihe: Frontiers in Electronic Testing
ISBN: 978-1-4020-7050-1
Verlag: Springer US
A recent technological advance is the art of designing circuits to test themselves, referred to as a Built-In Self-Test. This book is written from a designer's perspective and describes the major BIST approaches that have been proposed and implemented, along with their advantages and limitations.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Konstruktionslehre und -technik
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Computeranwendungen in der Technik
- Mathematik | Informatik EDV | Informatik Angewandte Informatik Computeranwendungen in Wissenschaft & Technologie
- Geisteswissenschaften Design Produktdesign, Industriedesign
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Bauelemente, Schaltkreise
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Mikroprozessoren
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Elektronische Baugruppen, Elektronische Materialien
- Mathematik | Informatik EDV | Informatik Professionelle Anwendung Computer-Aided Design (CAD)
Weitere Infos & Material
An Overview of BIST.- Fault Models, Detection, and Simulation.- Design for Testability.- Test Pattern Generation.- Output Response Analysis.- Manufacturing and System-Level Use of BIST.- Built-In Logic Block Observer.- Pseudo-Exhaustive BIST.- Circular BIST.- Scan-Based BIST.- Non-Intrusive BIST.- BIST for Regular Structures.- BIST for FPGAs and CPLDs.- Applying Digital BIST to Mixed-Signal Systems.- Merging BIST and Concurrent Fault Detection.
