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Bowen / Tanner High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
1. Auflage 2019Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-40063-7Medium: Buch111,70 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Bowen / Tanner High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Erscheinungsjahr 2005Verlag: CRC PressISBN: 978-0-203-97919-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)88,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Bowen / Tanner High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
1. Auflage 1998Verlag: CRC PressISBN: 978-0-85066-758-5Medium: Buch296,20 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Bowen / Tanner High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
1. Auflage 2005Verlag: CRC PressISBN: 978-1-135-47860-5Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)88,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Bowen / Gilfrich / Goldsmith Advances in X-Ray Analysis
Volume 381995. Auflage 1995Verlag: Springer UsISBN: 978-0-306-45045-7Medium: Buch320,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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