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Breitenstein / Warta / Langenkamp Lock-in Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials2. Auflage 2010Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-02416-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Breitenstein / Warta / Langenkamp Lock-in Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials2. Auflage 2010Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-02417-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Breitenstein / Warta / Schubert Lock-in Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and MaterialsThird Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-99825-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark160,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Breitenstein / Warta / Schubert Lock-in Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and MaterialsThird Auflage 2018Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-99824-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Kittler / Breitenstein / Endrös Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors
Erscheinungsjahr 1998Verlag: Trans Tech PublicationsISBN: 978-3-0357-0682-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 0 - No protection211,86 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Kittler / Breitenstein / Endr?s Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors
Erscheinungsjahr 1998Verlag: Trans Tech PublicationsISBN: 978-3-03859-998-2Medium: SonstigesLieferzeit ca. 10 Werktage
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