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    Kapur | CTL for Test Information of Digital ICs | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Kapur CTL for Test Information of Digital ICs

    Erscheinungsjahr 2007
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-306-47826-0
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    96,29 € (inkl. MwSt.)
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    Kapur | CTL for Test Information of Digital ICs | Buch | Sack Fachmedien

    Kapur CTL for Test Information of Digital ICs

    2002
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-7293-2
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Kapur | CTL for Test Information of Digital ICs | Buch | Sack Fachmedien

    Kapur CTL for Test Information of Digital ICs

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4757-7800-7
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Wang / Wu / Wen | VLSI Test Principles and Architectures | Buch | Sack Fachmedien

    Wang / Wu / Wen VLSI Test Principles and Architectures

    Design for Testability
    Erscheinungsjahr 2006
    Verlag: Elsevier Science
    ISBN: 978-0-12-370597-6
    Medium: Buch
    84,00 € (inkl. MwSt.)
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