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Breitenstein / Warta / Langenkamp Lock-in Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials2. Auflage 2010Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-02416-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Breitenstein / Warta / Langenkamp Lock-in Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials2. Auflage 2010Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-02417-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)96,29 € (inkl. MwSt.)
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