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Li Jitter, Noise, and Signal Integrity at High-Speed (paperback)
Erscheinungsjahr 2007Verlag: Pearson Education (US)ISBN: 978-0-13-380745-5Medium: Buch97,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Wang / Wu / Wen VLSI Test Principles and Architectures
Design for TestabilityErscheinungsjahr 2006Verlag: Elsevier ScienceISBN: 978-0-12-370597-6Medium: Buch82,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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