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    Gizopoulos | Advances in Electronic Testing | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Gizopoulos Advances in Electronic Testing

    Challenges and Methodologies
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-387-29409-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Gizopoulos | Advances in Electronic Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Gizopoulos Advances in Electronic Testing

    Challenges and Methodologies
    2006
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-387-29408-7
    Medium: Buch
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    Gizopoulos | Advances in Electronic Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Gizopoulos Advances in Electronic Testing

    Challenges and Methodologies
    2006
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4899-8773-0
    Medium: Buch
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    Wunderlich | Models in Hardware Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Wunderlich Models in Hardware Testing

    Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
    1. Auflage 2009
    Verlag: Springer Nature B.V.
    ISBN: 978-90-481-3281-2
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Wunderlich | Models in Hardware Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Wunderlich Models in Hardware Testing

    Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-94-007-3093-9
    Medium: Buch
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    Bushnell / Agrawal | Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Bushnell / Agrawal Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

    2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-0-7923-7991-1
    Medium: Buch
    139,09 € (inkl. MwSt.)
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    Bushnell / Agrawal | Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Bushnell / Agrawal Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

    2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4757-8142-7
    Medium: Buch
    139,09 € (inkl. MwSt.)
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    Nicolaidis | Soft Errors in Modern Electronic Systems | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems

    1. Auflage 2010
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4419-6993-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Nicolaidis | Soft Errors in Modern Electronic Systems | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems

    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4614-2689-9
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Nicolaidis | Soft Errors in Modern Electronic Systems | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems

    2011. Auflage 2010
    Verlag: Springer Us
    ISBN: 978-1-4419-6992-7
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Chakravarty / Thadikaran | Introduction to IDDQ Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Chakravarty / Thadikaran Introduction to IDDQ Testing

    1. Auflage 1997
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-0-7923-9945-2
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Adams | High Performance Memory Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Adams High Performance Memory Testing

    Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
    2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4757-8474-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Adams | High Performance Memory Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Adams High Performance Memory Testing

    Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
    2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-7255-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Chakravarty / Thadikaran | Introduction to IDDQ Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Chakravarty / Thadikaran Introduction to IDDQ Testing

    Erscheinungsjahr 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4613-7812-9
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Adams | High Performance Memory Testing | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Adams High Performance Memory Testing

    Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
    Erscheinungsjahr 2005
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-306-47972-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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    Hamdioui | Testing Static Random Access Memories | Buch | Sack Fachmedien

    Hamdioui Testing Static Random Access Memories

    Defects, Fault Models and Test Patterns
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4419-5430-5
    Medium: Buch
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    Nicolaidis / Zorian / Pradhan | On-Line Testing for VLSI | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI

    Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4419-5033-8
    Medium: Buch
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    Nicolaidis / Zorian / Pradhan | On-Line Testing for VLSI | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI

    <em>Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2</em> 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-0-7923-8132-7
    Medium: Buch
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    Hamdioui | Testing Static Random Access Memories | Buch | Sack Fachmedien

    Hamdioui Testing Static Random Access Memories

    Defects, Fault Models and Test Patterns
    1. Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4020-7752-4
    Medium: Buch
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    Nicolici / Al-Hashimi | Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolici / Al-Hashimi Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

    A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
    2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-7235-2
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Nicolici / Al-Hashimi | Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Nicolici / Al-Hashimi Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

    A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
    Erscheinungsjahr 2006
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-306-48731-6
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    96,29 € (inkl. MwSt.)
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    Krstic | Delay Fault Testing for VLSI Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits

    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4613-7561-6
    Medium: Buch
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    Nicolici / Al-Hashimi | Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolici / Al-Hashimi Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

    A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4419-5315-5
    Medium: Buch
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    Krstic | Delay Fault Testing for VLSI Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits

    1998
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-7923-8295-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Sachdev / Pineda de Gyvez | Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Sachdev / Pineda de Gyvez Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

    2. Auflage Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4419-4285-2
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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