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Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-29408-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-29409-4Medium: eBookFormat: PDF
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Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8773-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Wunderlich Models in Hardware Testing
Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault1. Auflage 2009Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-90-481-3282-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Wunderlich Models in Hardware Testing
Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault2010Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-94-007-3093-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Wunderlich Models in Hardware Testing
Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault2010. Auflage 2009Verlag: SpringerISBN: 978-90-481-3281-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-7991-1Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
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Bushnell / Agrawal Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
Erscheinungsjahr 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47040-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark128,39 € (inkl. MwSt.)
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Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8142-7Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems
2011Verlag: Springer USISBN: 978-1-4614-2689-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems
1. Auflage 2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-6993-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems
2011. Auflage 2010Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-6992-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Thadikaran / Chakravarty Introduction to IDDQ Testing
1997Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9945-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Adams High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-Test2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8474-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Adams High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-Test2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7255-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Chakravarty / Thadikaran Introduction to IDDQ Testing
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-6137-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Adams High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-TestErscheinungsjahr 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47972-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Chakravarty / Thadikaran Introduction to IDDQ Testing
Erscheinungsjahr 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7812-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI
Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2. Softcover version of original hardcover Auflage 1998Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-5033-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Hamdioui Testing Static Random Access Memories
Defects, Fault Models and Test Patterns1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5430-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI
<em>Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2</em> 1998Verlag: SpringerISBN: 978-0-7923-8132-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Hamdioui Testing Static Random Access Memories
Defects, Fault Models and Test PatternsErscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-6706-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-6069-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Hamdioui Testing Static Random Access Memories
Defects, Fault Models and Test Patterns2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7752-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Al-Hashimi / Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7235-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7561-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-5597-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Nicolici / Al-Hashimi Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test StandardErscheinungsjahr 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-48731-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Al-Hashimi / Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5315-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8295-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev / Pineda de Gyvez Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-46547-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark213,99 € (inkl. MwSt.)
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Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4285-2Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-4926-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark85,59 € (inkl. MwSt.)
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Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-46546-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Kunz / Stoffel Reasoning in Boolean Networks
Logic Synthesis and Verification Using Testing TechniquesErscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-2572-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Stoffel / Kunz Reasoning in Boolean Networks
Logic Synthesis and Verification Using Testing Techniques1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1997Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5176-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kunz / Stoffel Reasoning in Boolean Networks
Logic Synthesis and Verification Using Testing Techniques1997. Auflage 1997Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-9921-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7205-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5307-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-6527-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Zilic / Radecka Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7652-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Radecka / Zilic Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification1. Auflage 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-48739-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark93,95 € (inkl. MwSt.)
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Zilic / Radecka Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5402-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Huertas Sánchez / Vázquez García de la Vega / Rueda Rueda Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
1. Auflage 2007Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-1-4020-5315-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Huertas Sánchez / Huertas Díaz / Vázquez García de la Vega Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7336-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Huertas Sánchez / Vázquez García de la Vega / Rueda Rueda Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
2006Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-5314-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Stroud A Designer's Guide to Built-In Self-Test
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7050-1Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Stroud A Designer's Guide to Built-In Self-Test
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-7626-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Stroud A Designer’s Guide to Built-In Self-Test
Erscheinungsjahr 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47504-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark213,99 € (inkl. MwSt.)
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Sheppard / Simpson Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-5545-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Simpson / Sheppard Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8263-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Sheppard / Simpson Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7535-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Pavlov / Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-1-4020-8363-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark160,49 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev / Pavlov CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7855-1Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Pavlov / Sachdev CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware Sram Design and Test2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8362-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Zorian / Paschalis Embedded Processor-Based Self-Test
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-5252-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8184-6Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Barua / Sinha Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
2005. Auflage 2005Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-25742-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Paschalis / Zorian Embedded Processor-Based Self-Test
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-2801-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / Waayers / McLaurin The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(TM)2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8769-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-6107-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / McLaurin / Waayers The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(tm)2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-30751-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Barua / Sinha Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-25743-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Osseiran Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test StandardErscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-4499-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 14502003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7637-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maly / Khare From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and Applications1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9714-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos / Zorian / Paschalis Embedded Processor-Based Self-Test
2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-2785-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gössel / Marienfeld / Ocheretny New Methods of Concurrent Checking
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-90-481-7876-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability2008Verlag: CopernicusISBN: 978-0-387-74746-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Huisman Data Mining and Diagnosing IC Fails
2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-24993-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Maichen Digital Timing Measurements
From Scopes and Probes to Timing and JitterSoftcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4066-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Cheung / Sousa Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
2001Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-7314-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Sousa / Cheung Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
Erscheinungsjahr 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47975-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Beenker / Thijssen / Bennetts Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test Approach1995Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-6004-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Bushnell Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9673-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Erscheinungsjahr 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47544-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Kabisatpathy / Sinha / Barua Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-3828-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Iyengar / Chandra Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
2002. Auflage 2002Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4020-7119-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Prinetto / Benso Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5391-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Garcia Gervacio / Champac Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-75464-2Medium: Buch128,39 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
2000Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8291-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
2000Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8669-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Champac / Garcia Gervacio Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-75465-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark117,69 € (inkl. MwSt.)
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Maichen Digital Timing Measurements
From Scopes and Probes to Timing and Jitter2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-31419-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Reis / Kastensmidt Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4052-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Larsson Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
2005Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-3207-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Cheung / Sousa Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2001Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4887-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Chandra / Iyengar Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5400-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-5693-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark181,89 € (inkl. MwSt.)
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Prinetto / Benso Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7589-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Larsson Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-25624-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Taylor / Villar Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 1450Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-0463-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Beenker / Bennetts / Thijssen Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test ApproachErscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-2365-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Benso / Prinetto Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
Erscheinungsjahr 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-48711-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
<em>Nachdrucked from JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 10:1-2</em> 1997Verlag: SpringerISBN: 978-0-7923-9920-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Maichen Digital Timing Measurements
From Scopes and Probes to Timing and Jitter2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-31418-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gössel / Ocheretny / Sogomonyan New Methods of Concurrent Checking
1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-1-4020-8420-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 1450Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5089-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kastensmidt / Reis Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
1. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-31069-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7606-4Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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