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    Hlawacek / Gölzhäuser | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Hlawacek / Gölzhäuser Helium Ion Microscopy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-319-41988-6
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2006
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-26242-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Landman / Heiz | Nanocatalysis | Buch | Sack Fachmedien

    Landman / Heiz Nanocatalysis

    1. Auflage 2007. 2. printing 2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74551-8
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74079-7
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74082-7
    Medium: Buch
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    Nejo | Nanoelectrodynamics | Buch | Sack Fachmedien

    Nejo Nanoelectrodynamics

    Electrons and Electromagnetic Fields in Nanometer-Scale Structure
    2003
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-42847-3
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods

    Volumes I - XIII
    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-88823-9
    Medium: Buch
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    Persson | Sliding Friction | Buch | Sack Fachmedien

    Persson Sliding Friction

    Physical Principles and Applications
    2. Auflage 2000
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-67192-3
    Medium: Buch
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    Masuhara / Sasaki / Nakanishi | Single Organic Nanoparticles | Buch | Sack Fachmedien

    Masuhara / Sasaki / Nakanishi Single Organic Nanoparticles

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62429-2
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VII

    Biomimetics and Industrial Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07213-0
    Medium: Buch
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    Ren / Wang / Lan | Aligned Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Ren / Wang / Lan Aligned Carbon Nanotubes

    Physics, Concepts, Fabrication and Devices
    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-44539-2
    Medium: Buch
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    Horing / Ünlü | Low Dimensional Semiconductor Structures | Buch | Sack Fachmedien

    Horing / Ünlü Low Dimensional Semiconductor Structures

    Characterization, Modeling and Applications
    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-44603-0
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09870-3
    Medium: Buch
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09955-7
    Medium: Buch
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    Ducharme / Fridkin | Ferroelectricity at the Nanoscale | Buch | Sack Fachmedien

    Ducharme / Fridkin Ferroelectricity at the Nanoscale

    Basics and Applications
    2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-41006-2
    Medium: Buch
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    Raza | Graphene Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Raza Graphene Nanoelectronics

    Metrology, Synthesis, Properties and Applications
    2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-20467-8
    Medium: Buch
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08360-0
    Medium: Buch
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    Bimberg | Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg Semiconductor Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09673-0
    Medium: Buch
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    Rossi | Theory of Semiconductor Quantum Devices | Buch | Sack Fachmedien

    Rossi Theory of Semiconductor Quantum Devices

    Microscopic Modeling and Simulation Strategies
    2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26681-2
    Medium: Buch
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    Hahn / Sidorenko / Tiginyanu | Nanoscale Phenomena | Buch | Sack Fachmedien

    Hahn / Sidorenko / Tiginyanu Nanoscale Phenomena

    Fundamentals and Applications
    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26122-0
    Medium: Buch
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