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Technik Allgemein
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Vassighi / Sachdev Thermal and Power Management of Integrated Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-3832-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Vassighi / Sachdev Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Erscheinungsjahr 2006Verlag: Springer Nature B.V.ISBN: 978-0-387-25762-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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Saxena / Shelar / Sapatnekar Routing Congestion in VLSI Circuits
Estimation and Optimization2007. Auflage 2007Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-30037-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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Saxena / Shelar / Sapatnekar Routing Congestion in VLSI Circuits
Estimation and Optimization1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4013-1Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Orshansky / Nassif / Boning Design for Manufacturability and Statistical Design
A Constructive Approach1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4044-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Orshansky / Nassif / Boning Design for Manufacturability and Statistical Design
A Constructive ApproachErscheinungsjahr 2007Verlag: SpringerISBN: 978-0-387-30928-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Colinge FinFETs and Other Multi-Gate Transistors
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4409-2Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Colinge FinFETs and Other Multi-Gate Transistors
2008Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-71751-7Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Chiang / Kawa Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
1. Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-5187-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Chiang / Kawa Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-90-481-7303-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Horiguchi / Itoh Nanoscale Memory Repair
1. Auflage 2011Verlag: Springer Nature B.V.ISBN: 978-1-4419-7957-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Horiguchi / Itoh Nanoscale Memory Repair
1. Auflage 2013Verlag: SpringerISBN: 978-1-4614-2794-0Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Itoh / Horiguchi / Tanaka Ultra-Low Voltage Nano-Scale Memories
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4124-4Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Oklobdzija / Krishnamurthy High-Performance Energy-Efficient Microprocessor Design
2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-28594-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Lee / Ham / Westervelt CMOS Biotechnology
Erscheinungsjahr 2007Verlag: SpringerISBN: 978-0-387-36836-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Lee / Ham / Westervelt CMOS Biotechnology
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4230-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Ganai / Gupta SAT-Based Scalable Formal Verification Solutions
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4341-5Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Itoh / Horiguchi / Tanaka Ultra-Low Voltage Nano-Scale Memories
Erscheinungsjahr 2007Verlag: SpringerISBN: 978-0-387-33398-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Javey / Kong Carbon Nanotube Electronics
1. Auflage 2009Verlag: Springer Nature B.V.ISBN: 978-0-387-36833-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Javey / Kong Carbon Nanotube Electronics
1. Auflage 2010Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-4229-6Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Foster / Krolnik Creating Assertion-Based IP
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4218-0Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Cao Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design
Erscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-1-4614-3021-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Cao Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design
2011. Auflage 2011Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4614-0444-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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Wang / Hachtel / Somenzi Abstraction Refinement for Large Scale Model Checking
2006Verlag: SpringerISBN: 978-1-4899-9395-3Medium: Buch119,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Wang / Hachtel / Somenzi Abstraction Refinement for Large Scale Model Checking
Erscheinungsjahr 2006Verlag: Springer Nature B.V.ISBN: 978-0-387-34155-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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