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Technische Wissenschaften

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    Dehm / Howe / Zweck | In-situ Electron Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Dehm / Howe / Zweck In-situ Electron Microscopy

    Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
    1. Auflage 2012
    Verlag: WILEY-VCH
    ISBN: 978-3-527-31973-2
    Medium: Buch
    169,00 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
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