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Technische Wissenschaften
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Kleinert Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing
Applying Bandwidth-Dependent DAC and DGS Curves1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-32834-8Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Kleinert Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing
Applying Bandwidth-Dependent DAC and DGS CurvesSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-81379-0Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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