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Technische Wissenschaften
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Kastensmidt / Reis Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4052-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Kastensmidt / Reis Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs
2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-31068-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Reis / Jess Design of System on a Chip
Devices & Components1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-5454-1Medium: Buch135,84 € (inkl. MwSt.)
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Reis / Jess Design of System on a Chip
Devices & Components2004. Auflage 2004Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4020-7928-3Medium: Buch135,84 € (inkl. MwSt.)
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Neuberger / Wirth / Reis Protecting Chips Against Hold Time Violations Due to Variability
1. Auflage 2013Verlag: SpringerISBN: 978-94-007-2426-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Neuberger / Wirth / Reis Protecting Chips Against Hold Time Violations Due to Variability
Softcover Nachdruck of the Original 1. 2014 Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-94-017-7794-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Reis / Cao / Wirth Circuit Design for Reliability
1. Auflage 2014Verlag: SpringerISBN: 978-1-4614-4077-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Abich / Ost / Reis Early Soft Error Reliability Assessment of Convolutional Neural Networks Executing on Resource-Constrained IoT Edge Devices
1. Auflage 2023Verlag: SpringerISBN: 978-3-031-18601-1Medium: Buch85,59 € (inkl. MwSt.)
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Reis / Mooney / Hasler Vlsi-Soc: Advanced Topics on Systems on a Chip
A Selection of Extended Versions of the Best Papers of the Fourteenth International Conference on Very Large Scale Integration of System on Chip (Vlsi-Soc2007), October 15-17, 2007, Atlanta, USA2009. Auflage 2009Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-89557-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Velazco / Fouillat / Reis Radiation Effects on Embedded Systems
2007. Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-5645-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Velazco / Fouillat / Reis Radiation Effects on Embedded Systems
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-90-481-7417-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Reis / Cao / Wirth Circuit Design for Reliability
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015Verlag: SpringerISBN: 978-1-4939-4156-8Medium: Buch109,99 € (inkl. MwSt.)
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Reis / Mooney / Hasler VLSI-SoC: Advanced Topics on Systems on a Chip
A Selection of Extended Versions of the Best Papers of the Fourteenth International Conference on Very Large Scale Integration of System on Chip (VLSI-SoC2007), October 15-17, 2007, Atlanta, USA1. Auflage 2011Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4708-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Abich / Ost / Reis Early Soft Error Reliability Assessment of Convolutional Neural Networks Executing on Resource-Constrained IoT Edge Devices
1. Auflage 2023Verlag: SpringerISBN: 978-3-031-18598-4Medium: Buch85,59 € (inkl. MwSt.)
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Posser / Sapatnekar / Reis Electromigration Inside Logic Cells
Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOSSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-84041-3Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Posser / Sapatnekar / Reis Electromigration Inside Logic Cells
Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS1. Auflage 2017Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-48898-1Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Reis / Osseiran / Pfleiderer VLSI-SoC: From Systems to Silicon
IFIP TC10/ WG 10.5 Thirteenth International Conference on Very Large Scale Integration of System on Chip (VLSI-SoC2005), October 17-19, 2005, Perth, Australia1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4467-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Reis / Osseiran / Pfleiderer Vlsi-Soc: From Systems to Silicon
Ifip Tc10/ Wg 10.5 Thirteenth International Conference on Very Large Scale Integration of System on Chip (Vlsi-Soc2005), October 17-19, 2005, Perth, Australia2007. Auflage 2007Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-73660-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Becker / De Oliveira Johann / Reis VLSI-SoC: Technologies for Systems Integration
17th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2009, Florianópolis, Brazil, October 12-15, 2009, Revised Selected Papers1. Auflage 2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-23119-3Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Zimpeck / Meinhardt / Artola Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
1. Auflage 2021Verlag: SpringerISBN: 978-3-030-68367-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Zimpeck / Meinhardt / Artola Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
1. Auflage 2021Verlag: SpringerISBN: 978-3-030-68370-2Medium: Buch74,89 € (inkl. MwSt.)
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Becker / De Oliveira Johann / Reis VLSI-SoC: Technologies for Systems Integration
17th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2009, Florianópolis, Brazil, October 12-15, 2009, Revised Selected PapersErscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-27072-7Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Ayala / Atienza Alonso / Reis VLSI-SoC: Forward-Looking Trends in IC and Systems Design
18th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2010, Madrid, Spain, September 27-29, 2010, Revised Selected PapersErscheinungsjahr 2014Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-44175-2Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Rocha da Rosa / Reis / Ost Soft Error Reliability Using Virtual Platforms
Early Evaluation of Multicore Systems1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-55706-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Rocha da Rosa / Reis / Ost Soft Error Reliability Using Virtual Platforms
Early Evaluation of Multicore Systems1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-55703-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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