Liebe Besucherinnen und Besucher,
aufgrund unseres Sommerfestes sind wir am 03. September 2026 bis 14 Uhr erreichbar. Am 04. September 2026 sind wir wieder wie gewohnt für Sie da. Vielen Dank für Ihr Verständnis.
Ihr Team von Sack Fachmedien
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Technische Wissenschaften
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Pavlov / Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-90-481-7855-1Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Pavlov / Sachdev CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware Sram Design and Test2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8362-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Vassighi / Sachdev Thermal and Power Management of Integrated Circuits
2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-25762-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Vassighi / Sachdev Thermal and Power Management of Integrated Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-3832-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev / Pineda de Gyvez Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-0-387-46546-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Semenov / Sarbishaei / Sachdev ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-90-481-7836-0Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev / Pineda de Gyvez Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4285-2Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Semenov / Sarbishaei / Sachdev Esd Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8300-6Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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