Fomin / Kratsch / Leeuwen | Treewidth, Kernels, and Algorithms | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 299 Seiten

Reihe: Theoretical Computer Science and General Issues

Fomin / Kratsch / Leeuwen Treewidth, Kernels, and Algorithms

Essays Dedicated to Hans L. Bodlaender on the Occasion of His 60th Birthday
1. Auflage 2020
ISBN: 978-3-030-42071-0
Verlag: Springer International Publishing
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Essays Dedicated to Hans L. Bodlaender on the Occasion of His 60th Birthday

E-Book, Englisch, 299 Seiten

Reihe: Theoretical Computer Science and General Issues

ISBN: 978-3-030-42071-0
Verlag: Springer International Publishing
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Fomin / Kratsch / Leeuwen Treewidth, Kernels, and Algorithms jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Fomin, Fedor V.
Kratsch, Stefan
Leeuwen, Erik Jan van
Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.