Buch, Englisch, 378 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 799 g
Reihe: NanoScience and Technology
Characterization
Buch, Englisch, 378 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 799 g
Reihe: NanoScience and Technology
ISBN: 978-3-540-26909-0
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Zielgruppe
Professional/practitioner
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffkunde, Materialwissenschaft: Forschungsmethoden
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Oberflächen- und Grenzflächenphysik, Dünne Schichten
- Naturwissenschaften Chemie Physikalische Chemie
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Nanotechnologie
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Mikroskopie, Spektroskopie
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Festkörperphysik, Kondensierte Materie
Weitere Infos & Material
Atomic Force Microscopy in Nanomedicine.- Scanning Probe Microscopy: From Living Cells to the Subatomic Range.- Surface Characterization and Adhesion and Friction Properties of Hydrophobic Leaf Surfaces and Nanopatterned Polymers for Superhydrophobic Surfaces.- Probing Macromolecular Dynamics and the Influence of Finite Size Effects.- Investigation of Organic Supramolecules by Scanning Probe Microscopy in Ultra-High Vacuum.- One- and Two-Dimensional Systems: Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy of Organic and Inorganic Structures.- Scanning Probe Microscopy Applied to Ferroelectric Materials.- Morphological and Tribological Characterization of Rough Surfaces by Atomic Force Microscopy.- AFM Applications for Contact and Wear Simulation.- AFM Applications for Analysis of Fullerene-Like Nanoparticles.- Scanning Probe Methods in the Magnetic Tape Industry.