Goodhew / Humphreys / Beanland | Electron Microscopy and Analysis | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 254 Seiten

Goodhew / Humphreys / Beanland Electron Microscopy and Analysis


3. Auflage 2000
ISBN: 978-1-040-07522-7
Verlag: Taylor & Francis eBooks
Format: EPUB
 Kopierschutz: 0 - No protection

E-Book, Englisch, 254 Seiten

ISBN: 978-1-040-07522-7
Verlag: Taylor & Francis eBooks
Format: EPUB
 Kopierschutz: 0 - No protection

Goodhew / Humphreys / Beanland Electron Microscopy and Analysis jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Goodhew, Peter J.
Humphreys, John
Beanland, Richard
Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.