Gray / Paschkewitz | Next Generation HALT and HASS | E-Book | www.sack.de
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E-Book, Englisch

Reihe: Quality and Reliability Engineering Series

Gray / Paschkewitz Next Generation HALT and HASS

Robust Design of Electronics and Systems
1. Auflage 2016
ISBN: 978-1-118-70020-4
Verlag: Wiley-ISTE
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

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Autoren/Hrsg.

Gray, Kirk A.
Paschkewitz, John J.
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