Gruverman | Scanning Probe Microscopy | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 980 Seiten

Gruverman Scanning Probe Microscopy

Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
1. Auflage 2007
ISBN: 978-0-387-28668-6
Verlag: Springer-Verlag
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

E-Book, Englisch, 980 Seiten

ISBN: 978-0-387-28668-6
Verlag: Springer-Verlag
Format: PDF
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Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.



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Autoren/Hrsg.

Gruverman, Alexei
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