Gruverman | Scanning Probe Microscopy | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 980 Seiten

Gruverman Scanning Probe Microscopy

Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
1. Auflage 2007
ISBN: 978-0-387-28668-6
Verlag: Springer-Verlag
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

E-Book, Englisch, 980 Seiten

ISBN: 978-0-387-28668-6
Verlag: Springer-Verlag
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

This volume will be devoted to the technical aspects of electrical and electromechanical SPM probes and SPM imaging on the limits of resolution, thus providing technical introduction into the field. This volume will also address the fundamental physical phenomena underpinning the imaging mechanism of SPMs.

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Autoren/Hrsg.

Gruverman, Alexei
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