Hamdioui | Testing Static Random Access Memories | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 26, 221 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

Hamdioui Testing Static Random Access Memories

Defects, Fault Models and Test Patterns
Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-1-4757-6706-3
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Defects, Fault Models and Test Patterns

E-Book, Englisch, Band 26, 221 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

ISBN: 978-1-4757-6706-3
Verlag: Springer US
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Autoren/Hrsg.

Hamdioui, Said
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