Hong / Cheng | Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links | Buch | 978-90-481-3442-7 | sack.de

Buch, Englisch, Band 51, 98 Seiten, Format (B × H): 164 mm x 244 mm, Gewicht: 317 g

Reihe: Lecture Notes in Electrical Engineering

Hong / Cheng

Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links


2010. Auflage 2009
ISBN: 978-90-481-3442-7
Verlag: Springer

Buch, Englisch, Band 51, 98 Seiten, Format (B × H): 164 mm x 244 mm, Gewicht: 317 g

Reihe: Lecture Notes in Electrical Engineering

ISBN: 978-90-481-3442-7
Verlag: Springer


Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links describes in detail several new and promising techniques for cost-effectively testing high-speed interfaces with a high test coverage. One primary focus of Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links is on efficient testing methods for jitter and bit-error-rate (BER), which are widely used for quantifying the quality of a communication system. Various analysis as well as experimental results are presented to demonstrate the validity of the presented techniques.

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Zielgruppe


Research

Weitere Infos & Material


An Efficient Jitter Measurement Technique.- BER Estimation for Linear Clock and Data Recovery Circuit.- BER Estimation for Non-linear Clock and Data Recovery Circuit.- Gaps in Timing Margining Test.- An Accurate Jitter Estimation Technique.- A Two-Tone Test Method for Continuous-Time Adaptive Equalizers.- Conclusions.



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