Krzyzak / Suen / Torsello | Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 324 Seiten

Reihe: Lecture Notes in Computer Science

Krzyzak / Suen / Torsello Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2022, Montreal, QC, Canada, August 26–27, 2022, Proceedings
1. Auflage 2022
ISBN: 978-3-031-23028-8
Verlag: Springer International Publishing
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2022, Montreal, QC, Canada, August 26–27, 2022, Proceedings

E-Book, Englisch, 324 Seiten

Reihe: Lecture Notes in Computer Science

ISBN: 978-3-031-23028-8
Verlag: Springer International Publishing
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2022, held in Montreal, QC, Canada, in August 2022.

The 30 papers together with 2 invited talks presented in this volume were carefully reviewed and selected from 50 submissions. The workshops presents papers on topics such as deep learning, processing, computer vision, machine learning and pattern recognition and much more.

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Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Krzyzak, Adam
Suen, Ching Y.
Torsello, Andrea
Nobile, Nicola
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