Malarvel / Nayak / Pattnaik | Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band Volume 2, 352 Seiten

Reihe: Machine Vision Inspection Systems

Malarvel / Nayak / Pattnaik Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches


Volume 2
ISBN: 978-1-119-78611-5
Verlag: Wiley
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

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Reihe: Machine Vision Inspection Systems

ISBN: 978-1-119-78611-5
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Autoren/Hrsg.

Malarvel, Muthukumaran
Nayak, Soumya Ranjan
Pattnaik, Prasant Kumar
Panda, Surya Narayan
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