Noia / Chakrabarty | Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 245 Seiten

Noia / Chakrabarty Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs


2014
ISBN: 978-3-319-02378-6
Verlag: Springer Nature Switzerland
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, 245 Seiten

ISBN: 978-3-319-02378-6
Verlag: Springer Nature Switzerland
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

This book describes innovative techniques to address the testing needs of 3D stacked integrated circuits (ICs) that utilize through-silicon-vias (TSVs) as vertical interconnects. The authors identify the key challenges facing 3D IC testing and present results that have emerged from cutting-edge research in this domain. Coverage includes topics ranging from die-level wrappers, self-test circuits, and TSV probing to test-architecture design, test scheduling, and optimization. Readers will benefit from an in-depth look at test-technology solutions that are needed to make 3D ICs a reality and commercially viable.


Krishnendu Chakrabarty is a Professor of Electrical and Computer Engineering at Duke University. He received his PhD from University of Michigan. He is a Fellow of IEEE and a Distinguished Engineer of ACM.

Noia / Chakrabarty Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Noia, Brandon
Chakrabarty, Krishnendu
Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.