Osseiran | Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 16, 156 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

Osseiran Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-1-4757-4499-6
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

E-Book, Englisch, Band 16, 156 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

ISBN: 978-1-4757-4499-6
Verlag: Springer US
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Autoren/Hrsg.

Osseiran, Adam
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