Rodbell / Filter / Frost | Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 | Buch | 978-1-55899-205-4 | sack.de

Buch, Englisch, 516 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 234 mm, Gewicht: 885 g

Reihe: Mrs Proceedings

Rodbell / Filter / Frost

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309


Erscheinungsjahr 1993
ISBN: 978-1-55899-205-4
Verlag: CAMBRIDGE

Buch, Englisch, 516 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 234 mm, Gewicht: 885 g

Reihe: Mrs Proceedings

ISBN: 978-1-55899-205-4
Verlag: CAMBRIDGE

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Rodbell / Filter / Frost Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Rodbell, Kenneth P.
Filter, William F.
Frost, Harold J.
Ho, Paul S.

Fachgebiete

Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.