Stamp / Low | Applied Cryptanalysis | E-Book | www.sack.de
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E-Book, Englisch

Reihe: IEEE Press

Stamp / Low Applied Cryptanalysis

Breaking Ciphers in the Real World
1. Auflage 2007
ISBN: 978-0-470-14876-1
Verlag: John Wiley & Sons
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

Breaking Ciphers in the Real World

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Autoren/Hrsg.

Stamp, Mark
Low, Richard M.
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