Strong / Wu / Vollertsen | Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies | E-Book | www.sack.de
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Reihe: IEEE Press Series on Microelectronic Systems

Strong / Wu / Vollertsen Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies


1. Auflage 2009
ISBN: 978-0-470-45525-8
Verlag: Wiley
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

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Autoren/Hrsg.

Strong, Alvin W.
Wu, Ernest Y.
Vollertsen, Rolf-Peter
Sune, Jordi
La Rosa, Giuseppe
Sullivan, Timothy D.
Rauch, Stewart E.
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