E-Book, Englisch, 197 Seiten, eBook
Wang / Chattopadhyay High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
1. Auflage 2018
ISBN: 978-981-10-1073-6
Verlag: Springer Singapore
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
E-Book, Englisch, 197 Seiten, eBook
Reihe: Computer Architecture and Design Methodologies
ISBN: 978-981-10-1073-6
Verlag: Springer Singapore
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Weitere Infos & Material
Introduction.- Background.- Related Work.- High-level Fault Injection and Simulation.- Architectural Reliability Estimation.- Architectural Reliability Exploration.- System-level Reliability Exploration.- Conclusion and Outlook.




