Wohlbier | Defect and Diffusion Forum Vol. 48 | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 185 Seiten

Wohlbier Defect and Diffusion Forum Vol. 48


Erscheinungsjahr 1987
ISBN: 978-3-0357-0799-1
Verlag: Trans Tech Publications
Format: PDF
 Kopierschutz: 0 - No protection

E-Book, Englisch, 185 Seiten

ISBN: 978-3-0357-0799-1
Verlag: Trans Tech Publications
Format: PDF
 Kopierschutz: 0 - No protection

Defect and Diffusion Forum Vol. 48

Wohlbier Defect and Diffusion Forum Vol. 48 jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Wohlbier, Fred H.

Weitere Infos & Material

Near Band-Edge and Deep-Level Related Luminescence Images near Dislocations in In-Alloyed Czochralski GaAs
Search for the Full Atomic Structure of EL2 in GaAs
Defect Related to Nitrogen Implantation in Silicon Single Crystals
Radiation Damage in Zirconium and its Alloys
Abstracts: Semiconductors
Abstracts: Halides
Abstracts: Oxides, Spinels, Garnets, and other Mixed Oxides
Abstracts: Carbon and Carbides
Abstracts: Sulfides and Selenides
Abstracts: Miscellaneous Substances, Non-Metallic Liquids
Abstracts: Metals, Metallic Liquids
Abstracts: General References: Diffusion, Point Defects, Dislocations, Irradiation Effects, Ionic Conduction

Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.